標(biāo)題：分析試驗(yàn)中的樣品-光學(xué)試樣校準(zhǔn)儀器
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作者:yiyi發(fā)布
時(shí)間:2017-10-4 19:17:24
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正文:
分析試驗(yàn)中的樣品-光學(xué)試樣校準(zhǔn)儀器
首先，光階掃描有助于確定各種校準(zhǔn)參數(shù)。下一步是建立標(biāo)準(zhǔn)
。儀器一直在運(yùn)行，不斷分析試驗(yàn)中的樣品。一般光譜掃描按代表
性的標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行，以識(shí)別出現(xiàn)在光譜中的重要元素峰，掃描是一種定
性工具，可顯示任何可能出現(xiàn)的界面元素。例如，鐵—55源將激發(fā)
下面周期范圍的元素：鋁到釩，鋯到鈰。將輻射源適當(dāng)組合，理論
上能夠測(cè)試從鋁到鈾的元素。一旦通過光譜掃描識(shí)別出干擾，校準(zhǔn)
就可以建立。制樣時(shí)，切割出一圓板形試樣，并將其置于鎳涂覆的
紙固定器上。固定器是為了盡可能地保持試樣平整，因?yàn)樵诜蔷鶆?/div>
出自http://www.bjsgyq.com/北京顯微鏡百科
表面存在的入射面散射和空白會(huì)導(dǎo)致的結(jié)果偏差。
一旦確立了校準(zhǔn)，選扦兩個(gè)試樣，這兩個(gè)試樣能夠包含所有試
樣的測(cè)試范圍，然后利用這些試樣校準(zhǔn)儀器性能隨著時(shí)間發(fā)生的變
化，<，／這兩個(gè)標(biāo)準(zhǔn)試樣和一個(gè)作背景的未涂覆試樣進(jìn)行的校準(zhǔn)
是按紐式程序、每次更換試樣都要進(jìn)行重新標(biāo)準(zhǔn)化。然后開始進(jìn)行
分析：操作者經(jīng)過簡(jiǎn)單切割得到須分析的試樣，將其插入儀器，然
后啟動(dòng)儀器。在23min之內(nèi)，儀器將測(cè)定待測(cè)元素的濃度，打印和
顯示結(jié)果
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