標(biāo)題：實(shí)驗(yàn)方法對(duì)被檢測(cè)的閘門樣品質(zhì)量檢測(cè)顯微鏡
信息分類:站內(nèi)新聞
作者:yiyi發(fā)布
時(shí)間:2018-10-24 0:14:36
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正文:
實(shí)驗(yàn)方法對(duì)被檢測(cè)的閘門樣品質(zhì)量檢測(cè)顯微鏡
閘門動(dòng)力測(cè)試系統(tǒng)所提供的實(shí)測(cè)數(shù)據(jù)，通常是物理量的歷程，它是隱含事
物內(nèi)在變化規(guī)律的原始資料。為了能從原始記錄中得到有用的信息，須對(duì)
所測(cè)參量的幅值域、時(shí)間域和頻率域的變化特征及其規(guī)律性進(jìn)行分析與處
理，并消除測(cè)量誤差的影響。本章在介紹誤差與檢測(cè)數(shù)據(jù)的分析時(shí)，還將
對(duì)誤差理論、概率論、數(shù)理統(tǒng)計(jì)和計(jì)算數(shù)學(xué)等基礎(chǔ)知識(shí)作簡要論述。
測(cè)試的基礎(chǔ)知識(shí)
測(cè)試
測(cè)試專業(yè)人員借助專門設(shè)備，通過實(shí)驗(yàn)方法對(duì)被檢測(cè)的閘門取得數(shù)量觀
念的認(rèn)識(shí)過程，稱為測(cè)試。
測(cè)試結(jié)果可能表現(xiàn)為一定的數(shù)字、曲線，或某種圖形、頻率譜等。不
論何種形式，其結(jié)果總包含一定的數(shù)值(大小或符號(hào))以及相應(yīng)的單位。
在測(cè)試過程中，不可避免地存在誤差
出自http://www.bjsgyq.com/北京顯微鏡百科
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