標題：試驗室氧對表面光學涂層截面斷口分析顯微鏡
信息分類:站內(nèi)新聞
作者:yiyi發(fā)布
時間:2019-4-29 19:32:48
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正文:
試驗室氧對表面光學涂層截面斷口分析顯微鏡
數(shù)據(jù)存儲在電池供電的數(shù)據(jù)記錄儀中，以便飛行后的下載和分析。飛行
試驗材料包括薄聚合物膜、熱涂層、陶瓷、抗UV材料、保護涂層、光學樣
本、納米復合材料、銦錫氧化物涂層、防輻射材料、光反射材料、形狀記
憶材料以及為被動實驗研究的材料。一些主動設備和檢測儀包括氧原子流
量監(jiān)測儀、低能離子探測儀
在試驗室中原子氧對表面的影響可能與在低地球軌道上原子氧對暴露
表面的影響不同。在軌道上，暴露的樣品經(jīng)歷著+100℃～-100℃的熱循環(huán)
，這可能對某些氧化物產(chǎn)生有害影響。原子氧侵蝕和熱循環(huán)的同時作用可
類比于靜態(tài)應力和腐蝕（應力腐蝕）、疲勞和腐蝕（腐蝕疲勞），共同作
用的影響會超出單獨作用效果疊加的影響。純金屬本身幾乎不受熱循環(huán)影
響，原子氧對金屬，如金、鈀、鋁的作用效果在可控范圍之內(nèi)。銀（和鋨
）的腐蝕產(chǎn)率值需在同一個數(shù)量級，然而，在低地球軌道下觀察到銀和鋨
發(fā)生了很大的變化，這是原子氧侵蝕和熱偏移聯(lián)合作用的結果。因此，地
面測試材料在低地球軌道的性能時，應始終把氧原子侵蝕與熱循環(huán)結合起
來。為了預測材料在低地球軌道的性能，必須精確地模擬低地球軌道環(huán)境
條件，或至少了解材料在模擬環(huán)境下的性能與太空中性能的關系。
出自http://www.bjsgyq.com/北京顯微鏡百科
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