標題：電解浸蝕礦物礦物晶粒結(jié)構(gòu)樣品分析顯微鏡
信息分類:站內(nèi)新聞
作者:yiyi發(fā)布
時間:2020-6-10 8:34:44
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正文:
電解浸蝕礦物礦物晶粒結(jié)構(gòu)樣品分析顯微鏡
電解浸蝕法(電解法) 通常用四節(jié)串聯(lián)的一號干電池作電源，正
極與鋼針相連結(jié)，負極與鉑絲相連結(jié)，然后將鉑絲(負極)觸及光片上
滴有試劑的溶液表面(頂部)，使鋼針觸及礦物，構(gòu)成電流回路。經(jīng)一
定時間后，取下二個電極，用濾紙吸干后，再置于顯微鏡下觀察。該
法的實質(zhì)是加速和加強試劑對光片的浸蝕作用。
結(jié)構(gòu)浸蝕所需的濃度及時間，以能迅速而又清楚地顯示結(jié)構(gòu)為宜
。即時間由短而逐漸加長，試劑的濃度由稀至濃的次序進行浸蝕。如
發(fā)現(xiàn)作用時間不足，應仍在原處再進行浸蝕，直至能清晰地觀察到晶
粒內(nèi)部結(jié)構(gòu)為止，即盡量少損壞光面而又能觀察清楚為宜。
觀察浸蝕結(jié)構(gòu)應由低倍鏡到中倍鏡(物鏡)的次序進行，以免遺漏
現(xiàn)象o
不完全磨光法 對于有些既不能用正交偏光法觀察，又不易被一
般試劑浸燭的礦物(如黑鎢礦、鉻鐵礦和辰砂等)可用此法。具體作法
是用細金剛砂稍加磨光(不拋出光面)后，觀察其晶粒內(nèi)部結(jié)構(gòu)。
礦物晶粒內(nèi)部結(jié)構(gòu)的主要類型
環(huán)帶結(jié)構(gòu)
環(huán)帶結(jié)構(gòu)是在晶粒內(nèi)部，由一系列平行晶面的環(huán)狀條紋帶所構(gòu)成
，環(huán)帶可寬、可窄，環(huán)帶間隔可疏可密。各環(huán)帶間以顏色(反射色)，
亮度(反射率)。硬度，化學組分和包裹體等的差異而顯示其差別。環(huán)
帶雖多為在晶體生長過程中形成，但就其生成機制仍有所不同。其主
要成因有以下幾種：
(1)吸附作用形成的環(huán)帶，是在晶體生長面上斷續(xù)地吸附外來的細
微雜質(zhì)，交互變化而構(gòu)成環(huán)帶。例如在磁鐵礦、鉻鐵礦、黃鐵礦、方
鉛礦、毒砂和自然銅等礦物中的環(huán)帶結(jié)構(gòu)，可有此種成因。
出自http://www.bjsgyq.com/北京顯微鏡百科
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