信息分類:站內(nèi)新聞
作者:yiyi發(fā)布
時間:2011-11-26 11:56:50
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正文:
NIR紅外線顯微鏡的應用
當你的樣品是在silicon當中,可是你又不想將你的樣品給破壞掉,用一般可見光又看不到你的defect或者是pattern,這時候,紅外線顯微鏡應該就是你最好的選擇了,至于詳細情形,看看下面幾張圖的介紹應該就夠了,若是需要進一步討論的話,要先去多準備資料應付了,呵~~~
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