標(biāo)題：SPM的特色試片的處理并不像其它電子顯微鏡復(fù)雜
信息分類:站內(nèi)新聞
作者:yiyi發(fā)布
時間:2012-5-9 1:19:41
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正文:
SPM的特色試片的處理并不像其它電子顯微鏡復(fù)雜
SPM具有尺度極小的空間解析度，尤其是在縱向方面，也就是能夠分辨奈米級范圍的高度差，可把表面的粗糙度描繪出來，另外試片的處理并不像其它電子顯微鏡那般複雜與講究，它可以在真空、空氣甚至是溶液里操作。同時設(shè)計上比較彈性，端看量測的物理特性為何，另外也可以把不同的SPM整合在同一機臺，如AFM與SCM的觀察等等。
出自http://www.bjsgyq.com/北京顯微鏡百科
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