研究方向；

第一個(gè)方向是探討磁性薄膜（多層膜）的特性和其磁區(qū)特征間的關(guān)連，第二個(gè)方向則是發(fā)展高解析能力的顯像式光電子顯微鏡（PEEM）。當(dāng)磁性薄膜的厚度降至奈米尺度時(shí)，其行為偏向近似二維的系統(tǒng)。

如果進(jìn)一步的在第一層薄膜上蒸鍍上不同材質(zhì)的第二層薄膜甚或第三層時(shí)，則膜層間的交互作用極可能導(dǎo)致該系統(tǒng)出現(xiàn)特殊的磁性性質(zhì)。透過PEEM的磁區(qū)顯影和MOKE的磁光量測(cè)，我們希望能結(jié)合微觀的量測(cè)（磁區(qū)影像）和巨觀的特征（e.g. 磁滯曲線）來探討磁性多層膜系統(tǒng)交互作用。而在薄膜的材質(zhì)選擇上則包含金屬和有機(jī)材料（許瑤真博士）。有關(guān)第二個(gè)方向，則稍微偏向應(yīng)用物理。

我們的目的是發(fā)展像差修正的顯微鏡。所有的光學(xué)元件（包含電子光學(xué)元件）的影像解析能力都受到像差的限制。如何克服像差是目前電子光學(xué)的重要課題。目前我們正嘗試透過電子光學(xué)軟體的電腦模擬和數(shù)值分析的方式來設(shè)計(jì)一像差修正的光電子顯微鏡。