標題：冶金、地質(zhì)、礦物材料顯微鏡-專業(yè)金相分析儀器
信息分類:站內(nèi)新聞
作者:yiyi發(fā)布
時間:2013-1-18 23:36:38
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正文:
電子顯微鏡的發(fā)展以TEM為優(yōu)先，而SEM則在1935年提出。
早期發(fā)展的SEM鑑別率不佳，影像處理及訊號處理在技術上一直無法突破，
此后SEM的發(fā)展技術日新月異，不但性能的大幅提高，且可附掛的各項材料分析儀器日益增多
如能量散佈光譜儀（energy dispersive spectrometers，EDS）及波長散佈光譜儀（wavelength dispersive spectrometers，WDS）
來做化學成份分析等
可應用的涵蓋范圍越來越大，幾乎包含各個研究領域，目前都應用在材料、生物yi學、
電子材料、化學、電機、機械、冶金、地質(zhì)、礦物、物理等
出自http://www.bjsgyq.com/北京顯微鏡百科
特別聲明：本文出自北京上光儀器有限公司-未經(jīng)允許請勿轉(zhuǎn)載，本文地址：http://www.bjsgyq.com/news/3864.html
北京地區(qū)金相顯微鏡專業(yè)的供應商
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