標(biāo)題：穿透式電子顯微鏡適用于研究材料內(nèi)部形態(tài)構(gòu)造
信息分類(lèi):站內(nèi)新聞
作者:yiyi發(fā)布
時(shí)間:2013-2-16 8:31:28
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正文:
穿透式電子顯微鏡適用于研究材料內(nèi)部形態(tài)構(gòu)造
穿透式電子顯微鏡，是研究材料內(nèi)部形態(tài)構(gòu)造最為直接有力的工
具。而欲以其研究形態(tài)，首要之務(wù)，便是制備可供 TEM 觀察的試片薄
膜。薄膜的厚度隨不同的樣品而有不同的要求，在本實(shí)驗(yàn)中所要觀察
的 HTPB-PU 的形態(tài)，因?yàn)槠?domain size 相當(dāng)�。�<10nm），故薄膜厚
度愈小欲能夠觀察到清晰的形態(tài)分布，然而切片極限值僅能達(dá)到
40nm。而制成薄膜的方法有兩種途徑，一是利用溶液鋪膜法制成，另
一則為使用超薄切片機(jī)將試片切成薄膜(42,46,65,66)。使用第一種方法，
在鋪膜的過(guò)程中，由于溶劑及界面等影響，有可能會(huì)改變 PU 的原始
形態(tài)，故我們采用第二種方法，如此一來(lái)才能展現(xiàn)整體的形態(tài)
由于 PU 在室溫下，相當(dāng)柔軟，所以要在低溫下讓試片硬化才能
夠進(jìn)行超薄切片，因此必須要采用低溫設(shè)備。在進(jìn)行低溫切片時(shí)必須
準(zhǔn)確掌握住試片及鉆石刀的溫度，通常試片溫度太高會(huì)使薄片捲曲，
而溫度太低又會(huì)使薄片碎裂而無(wú)法收集。收集到薄片后，利用 OsO4(ag)
進(jìn)行染色，可藉此加強(qiáng)軟硬質(zhì)段的對(duì)比，以便在 TEM 下可觀察到形態(tài)
變化，以下為本實(shí)驗(yàn)利用 TEM 所得到的結(jié)果
出自http://www.bjsgyq.com/北京顯微鏡百科
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