標題：借助顯微鏡對納米與微米粒徑之量測-金相觀察儀器
信息分類:站內(nèi)新聞
作者:yiyi發(fā)布
時間:2013-2-26 0:54:21
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正文:
納米氧化鈰特性-第一部分：粒徑量測
納米材料特性分析的主要范疇進行了以下回顧。
重點在于使用多種分析技術(shù)進行納米與微米粒徑之量測，例如：穿透式電子顯微鏡、原子力顯微鏡、動態(tài)光散射儀、X光繞射儀以及比表面積分析儀，
并將上述數(shù)種方法應用在商用納米級氧化鈰及微米級氧化鈰之量測。
主要著重于非粒徑相關(guān)特性之量測與分析，并在結(jié)果中探討環(huán)境樣品與前處理方法間的關(guān)聯(lián)性，以及各類儀器的分析原理、限制及優(yōu)勢。為準確獲得樣品中之粒徑特征，
所使用的多重分析方法是結(jié)合不同種類的顯微鏡、光譜分析、分離方式及其它技術(shù)，
有助于提供生態(tài)毒性及環(huán)境研究更完善的資訊。納米氧化鈰顆粒粒徑(~15 nm)藉由原子力顯微鏡、穿透式電子顯微鏡、
X光繞射以及比表面積分析獲得良好的一致性，推測其形狀是半球形單晶體，對于微米級顆粒而言，
所有的測量結(jié)果皆呈現(xiàn)微米粒徑皆大于100 nm，而不同儀器其粒徑量測之差異性，可能為多重分散效應所造成。
研究發(fā)現(xiàn)經(jīng)由超高速離心前處理之低濃度樣品，以原子力顯微鏡及穿透式電子顯微鏡分析可獲得相當一致的數(shù)據(jù)，反觀動態(tài)光散射儀則無法進行有效分析。
出自http://www.bjsgyq.com/北京顯微鏡百科
特別聲明：本文出自北京上光儀器有限公司-未經(jīng)允許請勿轉(zhuǎn)載，本文地址：http://www.bjsgyq.com/news/3986.html
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