標(biāo)題：每次使用顯微鏡分析樣本前需要重新調(diào)整光源
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作者:yiyi發(fā)布
時(shí)間:2013-3-4 21:50:07
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正文:
每次使用顯微鏡分析樣本前需要重新調(diào)整光源
1.重新調(diào)整光源。
2.針對(duì)要分析之纖維狀物質(zhì)聚焦。
3.確定光圈完成對(duì)焦后打開照明至完全照明。
5.1.2 每隔一段時(shí)間或每次分析樣本前以 HSE/NPL 檢查玻片(MarkⅡ)測(cè)試顯微鏡之偵測(cè)極限，測(cè)試步驟如下：
1.取出 HSE/NPL 檢查玻片(MarkⅡ)，將玻片中心置于接物鏡下。
2.觀察計(jì)數(shù)板范圍，找出該玻片內(nèi)之溝紋，調(diào)焦使其溝紋清晰可見。
備注：此玻片包含有七組溝紋，每一組有 20 條溝紋，可見度隨著第一組到第七
組而漸趨不明顯，纖維計(jì)數(shù)所需要之條件為顯微鏡必須能夠完全清晰看見
前三組之溝紋，第四組及第五組應(yīng)為部分可見但可能非常模糊，而第六及
七組則完全不可見，假使顯微鏡之解析度太高或太低，均不符合纖維計(jì)數(shù)。
3.假如影像品質(zhì)衰退可清潔顯微鏡之光學(xué)系統(tǒng)，若問題依然存在，則須通知儀器商進(jìn)行維修
出自http://www.bjsgyq.com/北京顯微鏡百科
特別聲明：本文出自北京上光儀器有限公司-未經(jīng)允許請(qǐng)勿轉(zhuǎn)載，本文地址：http://www.bjsgyq.com/news/4012.html
北京地區(qū)金相顯微鏡專業(yè)的供應(yīng)商
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