標(biāo)題：高解析度的設(shè)計(jì)專(zhuān)業(yè)研究金相顯微鏡-輔助工具
信息分類(lèi):站內(nèi)新聞
作者:yiyi發(fā)布
時(shí)間:2013-7-23 14:04:38
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正文:
高解析度的設(shè)計(jì)專(zhuān)業(yè)研究金相顯微鏡
雖然掃描探針顯微鏡能夠具要原子級(jí)解析能力的關(guān)鍵之一，是在于應(yīng)用壓電陶瓷材料為作定位平臺(tái)的驅(qū)動(dòng)器，
使得在定位方面可以有較高的解析度，但是高解析度與長(zhǎng)行程卻是相反的設(shè)計(jì)考量，
所以?huà)呙杼结橈@微鏡只應(yīng)用壓電平臺(tái)而無(wú)其他的輔助工具，在試樣的準(zhǔn)備上就必須要先將欲掃描區(qū)域
切割成符合壓電平臺(tái)X、Y 軸行程的范圍，而這個(gè)范圍為50 μm 到200 μm 的正方格，是頭發(fā)的0.5 倍
至2 倍，在試樣條件上，這是一個(gè)嚴(yán)苛的條件，在實(shí)際的工業(yè)應(yīng)上，
也將是一個(gè)非常嚴(yán)重的致命傷，所以加入長(zhǎng)行程定位平臺(tái)是要其相當(dāng)?shù)谋匾?nbsp;
長(zhǎng)行程定位平臺(tái)的基本功能，就是要有定位(Positioning)的效果，也就是要能夠?qū)⒃嚇踊蛱结槪?nbsp;
與參考目標(biāo)的相對(duì)位置之距離差保持一定，但是在實(shí)際的應(yīng)用上，定位的誤差是會(huì)受到很多的環(huán)境因素，
或是本身設(shè)計(jì)因素考量的影響，所以針對(duì)應(yīng)用于掃描探針顯微鏡而言，定位平臺(tái)系統(tǒng)的解析度與定位平臺(tái)的工作行
程，是設(shè)計(jì)整體長(zhǎng)行程定位系統(tǒng)重要的條件，然而隨著定位平臺(tái)的行程越大，
由于誤差的累積，定位平臺(tái)所能達(dá)到的定位精度就會(huì)大幅的降低，自然就會(huì)影響到系統(tǒng)的解析度;
另外要達(dá)到高解析度的設(shè)計(jì)考量，更精密的位置感測(cè)器、位置閉回路控制與嚴(yán)格的環(huán)境要求是必要的
出自http://www.bjsgyq.com/北京顯微鏡百科
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北京地區(qū)金相顯微鏡專(zhuān)業(yè)的供應(yīng)商
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