標題：納米結(jié)構(gòu)觀察需要電子掃描顯微鏡可看清
信息分類:站內(nèi)新聞
作者:yiyi發(fā)布
時間:2013-7-26 13:06:09
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正文:
納米結(jié)構(gòu)觀察需要電子掃描顯微鏡可看清
波在傳播過程中經(jīng)過障礙物邊緣或孔隙時，產(chǎn)生繞過障礙物的繞射現(xiàn)象，其程度與表現(xiàn)受到孔隙與波長λ 尺度的影響
由英國人發(fā)現(xiàn)電子，年代由首先發(fā)表電子波動說，
提出電子具有波動之特性與光波極為類似，但波長極短，受加速電壓影響，
當加速電壓增為 時，波長約縮為 埃，所以電子也應(yīng)該有繞射現(xiàn)象；
科學家以電子繞射實驗證實了電子的波性。
實驗發(fā)現(xiàn)可藉電磁場聚焦電子，產(chǎn)生放大作用。而后電磁透鏡的誕生，
拓展了人類的視野，不斷追尋超微視界下的真相。本文揭示了一種可探視納米視界的新穎技術(shù)，
運用波的繞射現(xiàn)象，從一維狹縫干涉現(xiàn)象的觀察，延伸到空間有序的原子之間的三維干涉現(xiàn)象資訊的剖析，
來精密推斷原子層級的間隙。透過深入淺出的介紹 光及中子繞射在“看見”次納米結(jié)構(gòu)的能力，
繞射技術(shù)的原理及應(yīng)用，讓我們進一步開啟不一樣的視界
出自http://www.bjsgyq.com/北京顯微鏡百科
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