標(biāo)題：結(jié)合一般光學(xué)金相顯微鏡、加熱器、觀察試片微觀結(jié)構(gòu)
信息分類(lèi):站內(nèi)新聞
作者:yiyi發(fā)布
時(shí)間:2013-9-25 17:21:01
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正文:
將開(kāi)發(fā)一套嶄新且又便宜、操作簡(jiǎn)易的量測(cè)模組，此模組結(jié)合一般光學(xué)顯微鏡、加熱器、
試片治具、微測(cè)試結(jié)構(gòu)、電源供應(yīng)器及影像分析系統(tǒng)(含CCD 及影像處理軟體)。
即可進(jìn)行薄厚膜材料 之殘留應(yīng)力、熱膨脹系數(shù)、楊氏系數(shù)及熱傳導(dǎo)系數(shù)的即時(shí)量測(cè)，并
且也可用來(lái)進(jìn)行薄厚膜材料在熱 處理(退火)過(guò)程中殘留應(yīng)力的變化分析。
同一薄厚膜材料的不同性質(zhì)可藉由相同的測(cè)試結(jié)構(gòu)獨(dú)立量 測(cè)而得。
試片治具、微測(cè)試結(jié)構(gòu)、電源供應(yīng)器及影像分析系統(tǒng)(含CCD 及影像處理軟體)。
即可進(jìn)行薄厚膜材料 之殘留應(yīng)力、熱膨脹系數(shù)、楊氏系數(shù)及熱傳導(dǎo)系數(shù)的即時(shí)量測(cè)，并
且也可用來(lái)進(jìn)行薄厚膜材料在熱 處理(退火)過(guò)程中殘留應(yīng)力的變化分析。
同一薄厚膜材料的不同性質(zhì)可藉由相同的測(cè)試結(jié)構(gòu)獨(dú)立量 測(cè)而得。
出自http://www.bjsgyq.com/北京顯微鏡百科
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北京地區(qū)金相顯微鏡專(zhuān)業(yè)的供應(yīng)商
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