標(biāo)題：氧化鋅及金屬鍍層截面觀察晶格專業(yè)金相顯微鏡
信息分類:站內(nèi)新聞
作者:yiyi發(fā)布
時(shí)間:2013-10-23 20:16:18
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正文:
氧化鋅薄膜分析
氧化鋅壓電薄膜，薄膜沉積后品質(zhì)的好壞判斷為使用 XRD 量測
是否在Ｃ軸優(yōu)選方向有一定強(qiáng)度；AFM電子顯微鏡 量測其平坦度的好壞，以及
SEM 橫截面圖觀察晶格成長方向，以上量測結(jié)果都將影響表面聲波
傳播特性，然而 ZnO 結(jié)晶越完美可以讓材料的性質(zhì)一致且使表面聲
波的濾波穩(wěn)定度提高；反之結(jié)晶性不佳，原子內(nèi)部排列不規(guī)則，能量
無法完整經(jīng)由薄膜傳遞，會(huì)造成損耗，使濾波穩(wěn)定度下降;所以當(dāng) ZnO
結(jié)晶性越完美，X-ray 繞射峰的背景值越低且優(yōu)選方位越好，越適合
用來作為濾波材料
出自http://www.bjsgyq.com/北京顯微鏡百科
特別聲明：本文出自北京上光儀器有限公司-未經(jīng)允許請(qǐng)勿轉(zhuǎn)載，本文地址：http://www.bjsgyq.com/news/4822.html
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