標題：金屬截面纖維結(jié)晶顯微結(jié)構(gòu)分析圖像金相顯微鏡
信息分類:站內(nèi)新聞
作者:yiyi發(fā)布
時間:2013-10-27 22:43:54
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正文:
性質(zhì)分析及觀察法
結(jié)晶相分析：合成粉末及其燒結(jié)體的結(jié)晶分析是以 X 光繞射儀(XRD)檢測。
使用銅靶及鎳濾波器，操作條件為：
電壓 40KV、電流 30mA、時間長達數(shù)為 0.3 秒，
掃描速度為每分鐘 4 度，2θ 角度為 10~90 度。
密度測量及計算：生胚密度以游標卡尺量測生胚尺寸(厚度及直徑)與重量而求得。
燒結(jié)體密度則以阿基米德法求得。
顯微結(jié)構(gòu)分析：使用電子顯微鏡(SEM)，
觀察粉體或者燒結(jié)試樣之破斷面結(jié)構(gòu)及晶體大小。
觀察前須將試樣放置真空乾燥 24 小時，再取出斷面附著在戴臺的碳膠帶上，
以其觀察。顯微結(jié)構(gòu)成分分析：使用 10XFORD 6587 能
量散射光譜儀(EDS)，檢測粉體或燒結(jié)試樣之化學成分結(jié)構(gòu)及比例分析
出自http://www.bjsgyq.com/北京顯微鏡百科
特別聲明：本文出自北京上光儀器有限公司-未經(jīng)允許請勿轉(zhuǎn)載，本文地址：http://www.bjsgyq.com/news/4838.html
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