標題：應(yīng)用于晶體光纖橫截面纖維測定工具顯微鏡的價格
信息分類:站內(nèi)新聞
作者:yiyi發(fā)布
時間:2013-11-8 1:56:30
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正文:
晶體光纖橫截面纖維測定工具顯微鏡價格
光子晶體光纖是將中空毛細管條狀物質(zhì)成束狀排列，然后放置于背景物質(zhì)中，經(jīng)過加熱拉伸
后，橫切面結(jié)構(gòu)呈周期性孔洞排列的一種光纖，便可利用孔洞纖殼（holey cladding）較低的等
效折射率，在實體的光纖核心形成波導(dǎo)。其中心條狀物質(zhì)亦可經(jīng)由特殊制程而為中空狀，便可利
用其特殊周期孔洞結(jié)構(gòu)具有光子能隙（photonic bandgap）的特性，在能隙頻率范圍內(nèi)的電磁波
因無法透過孔洞結(jié)構(gòu)而被限制在中空的光纖核心中傳播。
以往想觀察光纖截面多半使用掃描式電子顯微鏡�；驹頌槔秒娮邮蛟谖覀兿胗^察的
材料上，然后使用光電倍增管接收電子束與靶材交互作用后產(chǎn)生的二次電子，經(jīng)過分析后重建影
像。其優(yōu)點為分辨率高，適合觀察物質(zhì)表面的精細結(jié)構(gòu)。但由于光纖組成材料為 SiO2，本身并
不導(dǎo)電，所以需要在光纖表面鍍上一層導(dǎo)電膜，才能使用 SEM 觀察，等于是對光纖做破壞性檢
測。而我們將若光耦合進光纖，然后觀察光輸出圖案，并不需要破壞光纖
出自http://www.bjsgyq.com/北京顯微鏡百科
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