標題：高折射率礦物分析用偏光顯微鏡-礦物樣品含量測定
信息分類:站內新聞
作者:yiyi發(fā)布
時間:2014-5-1 11:53:23
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正文:
高折射率礦物分析用偏光顯微鏡-礦物樣品含量測定
使用兩面拋光薄片的優(yōu)越性
(1)兩面拋光薄片最大的優(yōu)點是可以單獨用透射光或反射光，或者同時
用兩種光對巖石中的透明、半透明和不透明礦物的同一組合在顯微鏡下進行
研究。這種薄片可以使低折射率粘結介質中的高折射率礦物的光散射變小。
與單面拋光薄片相比，兩面拋光薄片的視域在清晰度、分辨率、色彩和顆粒
邊界上的差異等方面都有明顯的改善。
(2)兩面拋光薄片能更好地對礦物邊界作三維觀察，從而能作出更好的結構
共生解釋。
(3)兩面拋光薄片主體上是透明薄片，因而對透明礦物中由于不同應變
速率形變引起的內部亞構造，以及包裹體等能進行較好的觀察和研究。
(4)兩面拋光薄片也可用于探針分析(電子探針和離子探針均可)、掃描
電鏡研究以及同位素研究。
(5)如果樣品中只含有百分之幾的不透明礦物，那么用兩面拋光薄片，
在反射光下對礦物百分含量測定結果與在透射光下測定的結果經(jīng)常出現(xiàn)誤差
。實際上，在反射光下測定的結果比較可靠，所以我們現(xiàn)在已不再建議采用
透射光來作礦物含量分析了。
(6)兩面拋光薄片還能起到一塊光片所能起的相同作用，如可作反射率
側定、顯微硬度測量、差別蝕刻，以及與化學試劑的反應等。
(7)可以進行對同一現(xiàn)象用透射光照片和反射光照片作比較的成對顯微
照相。
出自http://www.bjsgyq.com/北京顯微鏡百科
特別聲明：本文出自北京上光儀器有限公司-未經(jīng)允許請勿轉載，本文地址：http://www.bjsgyq.com/news/5559.html
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