標題：電阻器電粒子的分布適合使用電子顯微鏡來分析
信息分類:站內(nèi)新聞
作者:yiyi發(fā)布
時間:2014-6-7 19:38:48
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正文:
電阻器電粒子的分布適合使用電子顯微鏡來分析
除去電阻器保護涂層后.用歐姆表從電阻器的一端沿著電阻膜朝另一端進行探
測，測量電限值.找出故障位置。測量表明，電阻器荃體上的電阻膜中有一條不到
lmm的隙縫。測量從電阻膜到電阻器兩端帽的低阻電連接，發(fā)現(xiàn)，用于分析的兩個故
障電阻器都在同樣位置出了故障。兩者的故障都發(fā)生在電阻膜螺旋形切割的起始處。
在故障位置沒有發(fā)現(xiàn)過熱痕跡。
掃描電子顯微術為了確定在故障區(qū)內(nèi)故障電阻器導電粒子的分布.利用了掃描電
子顯微鏡。在故障區(qū)采用快掃描速率以確定導電膜是否存在諸如裂紋、隙縫、空洞之類
的物理缺陷。在沒有觀察到物理缺陷時，就用慢掃描速率獲取后向散射圖像。這個方法
能確定在電阻膜中和電阻器絕緣表面上導電粒子的粒子數(shù)。發(fā)現(xiàn)故障區(qū)是不含導電粒
子的碳膜區(qū)。在電阻器的絕緣區(qū)內(nèi)觀察到過量的導電粒子。這些觀察證明，電阻器的故
障很可能是導電粒子遷徒遠離電阻器區(qū)域的結(jié)果。觀察到故障發(fā)生在，電阻膜螺旋切割
的端部。這個區(qū)域可能有最高的電場，從而提供引起導電粒子遷徙的力。
出自http://www.bjsgyq.com/北京顯微鏡百科
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