標題：斷口形貌粗糙度測量用光學(xué)顯微鏡制造廠商
信息分類:站內(nèi)新聞
作者:yiyi發(fā)布
時間:2014-6-22 0:04:33
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正文:
對于透明的固體，使用透射和反射光可以讓我們看到更多的斷口形貌細節(jié)。
標準的顯微學(xué)可能不允許這樣做，但對于斷口形貌學(xué)來說，這樣做是非常有必
要的。
在觀察粗糙表面時，通過表面對光的反射，能夠得到明暗對比的效果。對于
反光顯微鏡(reflected light microscopy)來說，樣品表面垂直于光軸的部分能將光
反射到透鏡系統(tǒng)中去，因而會顯得明亮。當(dāng)樣品表面的反射率比較差時，可以在
樣品表面鍍一層非常薄的光亮金屬(non-tarnishing metal)，例如金或鉑，獲得這
層金屬的最有效的方法是真空濺射沉積(sputter deposition)。對于更加復(fù)雜的光
學(xué)顯微鏡技術(shù)，照明控制非常必要。
出自http://www.bjsgyq.com/北京顯微鏡百科
特別聲明：本文出自北京上光儀器有限公司-未經(jīng)允許請勿轉(zhuǎn)載，本文地址：http://www.bjsgyq.com/news/5764.html
北京地區(qū)金相顯微鏡專業(yè)的供應(yīng)商
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