標(biāo)題：鋼錠的顯微偏析晶粒-鑄件金相測量軟件
信息分類:站內(nèi)新聞
作者:yiyi發(fā)布
時間:2014-6-24 17:09:14
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正文:
還觀察到有很多尺寸較大的孔洞存在。它們破壞了鋼材的連續(xù)性，材料斷裂首先
從這里開始。
電渣鑄態(tài)斷口是可以通過高溫擴(kuò)散退火予以消除的，而擴(kuò)散退火的主要功用
是消除鋼錠的顯微偏析。這里自然使我們聯(lián)想到，電渣鑄態(tài)斷口的形成是否與沿
柱狀品晶界的顯微偏析有關(guān)。
為說明.顯微偏析存在，用電子探針分析了樹枝品體偏析情況，
關(guān)于電渣鑄態(tài)斷口的形成原因，認(rèn)為是夾雜物、微孔洞和顯微偏析在柱狀晶
品界的存在，從而導(dǎo)致晶粒間的聯(lián)系減弱，形成沿品斷裂斷口，關(guān)于晶界偏析尚
有待進(jìn)一步的深入研究。
通過對電渣鑄態(tài)斷口的本質(zhì)研究，認(rèn)為電渣鑄態(tài)斷口是沿原始柱狀品品粒邊
界斷裂的結(jié)果，屬韌性沿晶斷裂范疇。對材料的力學(xué)性能影響不大，只有當(dāng)其十
分嚴(yán)重時，材料的斷面收縮率和斷裂韌性才略有下降，但其數(shù)值仍大大超過有關(guān)
技術(shù)條件規(guī)定的指標(biāo)。
出自http://www.bjsgyq.com/北京顯微鏡百科
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