標題：AFM電子顯微鏡樣品檢測中淀粉團粒樣品制備
信息分類:站內(nèi)新聞
作者:yiyi發(fā)布
時間:2014-7-12 19:34:32
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正文:
AFM電子顯微鏡樣品檢測中淀粉團粒樣品制備
用于原子力顯微鏡成像的淀粉團粒樣品制備
為獲得重現(xiàn)性高、品質高、有愈義的結果，原子力顯微鏡成像的樣品制備非常關鍵
雖然已有關于制備平面載體上分離的多糖鏈的常規(guī)方法的報道,淀粉團粒(粒子直徑約
0.1~ 200μm)的原子力顯微鏡(AFM)成像還存在一些與樣品尺寸及形貌直接有關的問
題。特別是有關曲面或點面成像，或何時采用特殊方法制備物料以展現(xiàn)淀粉團粒內(nèi)
表面的問題。
理論上，由于微懸臂跨過微米尺度的樣品掃描的需要，原子力顯微鏡應該在平面上操
作;面且微懸臂的垂直運動的限制，樣品高度差異大(超過數(shù)徽米)會阻礙針尖掃描;或者
由于針尖進人成像范圍，會產(chǎn)生針尖的“自我成像”.非固定的粒子可能會造成
如探針引起團粒移動或者當探針接觸樣品時發(fā)生“彎曲的”的問題
由于這些原因，幾乎所有發(fā)表的有關全淀粉團粒的原子力顯微鏡的研究都包括了團粒的包埋，
一方面是為了固定團粒，另一方面是為了減少樣品表面總體高度的差異。據(jù)報道，使用玻璃
均質機做物理破壞的方法比用消化或切割的方法更適合觀察淀粉團粒裸露的內(nèi)表面，但是新
趨勢是以接觸模式來研究被樹脂包裹的團粒薄片
出自http://www.bjsgyq.com/北京顯微鏡百科
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