標(biāo)題：機(jī)械加工樣品電子顯微鏡或橫截面光學(xué)顯微鏡鑒定
信息分類:站內(nèi)新聞
作者:yiyi發(fā)布
時(shí)間:2014-10-13 23:09:19
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正文:
電子顯微鏡或橫截面光學(xué)顯微鏡鑒定溝槽、孔的尖角邊緣
裂紋形核
在大多數(shù)情況下，裂紋緩慢擴(kuò)展發(fā)生在表面或近表面或因?yàn)槭菑澢?/div>
零件的應(yīng)力狀態(tài)在零件表面產(chǎn)生最大拉應(yīng)力，另一部分原因是因?yàn)榱慵?/div>
出自http://www.bjsgyq.com/北京顯微鏡百科
的臺(tái)階、溝槽、孔的尖角邊緣及機(jī)械加工留下的刀痕等宏觀應(yīng)力集中位
于表面。這些情況會(huì)造成在表面附近，特別在應(yīng)力集中處產(chǎn)生類似裂紋
性質(zhì)的材料缺陷。
如果缺陷是一顆夾雜，則用掃描電子顯微鏡或橫截面光學(xué)顯微鏡鑒
定出位于裂紋緩慢擴(kuò)展邊緣或中間的這種實(shí)際上固有的缺陷是很不尋常
的。然而很大的非金屬夾雜、大的金屬間化合物晶體，縮孔和氣孔、縫
隙或縐迭，作為裂紋源則很容易被辨認(rèn)。認(rèn)出斷口表面附近這些裂紋源
任何一種，常常就是以推論出其它尺寸相近的裂紋源都可能是造成相應(yīng)
裂紋的原因。
成串的夾雜劃孔洞應(yīng)當(dāng)被認(rèn)為是尺寸為整串長(zhǎng)的單個(gè)裂紋，用來(lái)判
斷應(yīng)力集中或裂紋形核的嚴(yán)重程度.這是因?yàn)榘褗A雜和孔洞隔開(kāi)的金屬
帶在低的應(yīng)力作用下會(huì)分別斷裂。當(dāng)顯微鏡更廣泛而均勻分布時(shí)，這種
現(xiàn)象就不會(huì)在基體中發(fā)生。當(dāng)夾雜和孔洞之間金屬帶斷裂時(shí)，顯微裂縫
便連成宏觀裂縫。
這些可辨認(rèn)的顯微組織狀態(tài)都會(huì)促使裂紋分支形成。所謂“分層”
開(kāi)裂通常是一個(gè)或一系列在垂直于主裂紋或原始裂紋平面上擴(kuò)展的分支
。這種情況可能是由分層面上高密度帶狀?yuàn)A雜所引起的。它們可以通過(guò)
金相方法琮加以識(shí)別。有時(shí)帶狀?yuàn)A雜本身并不能被鑒別出來(lái)，但是它們
的存在可由帶狀再結(jié)晶晶粒顯示出來(lái)。充分發(fā)展的結(jié)構(gòu)會(huì)誘發(fā)分層傾向
，在結(jié)構(gòu)中，解理面就位于板材的平面上。這種狀態(tài)用金相技術(shù)是不能
顯示的。
出自http://www.bjsgyq.com/北京顯微鏡百科
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