標(biāo)題：粗糙度算術(shù)平均值用輪廓儀測(cè)量-測(cè)量顯微鏡
信息分類(lèi):站內(nèi)新聞
作者:yiyi發(fā)布
時(shí)間:2014-11-26 23:44:07
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正文:
粗糙度的測(cè)量
目前的表面測(cè)量技術(shù)水平還不可能將一個(gè)物體的實(shí)際表面準(zhǔn)確表征出
來(lái)，并確定它的真正質(zhì)量。
測(cè)量粗糙度的儀器分為按接觸原理工作的和按光學(xué)干涉原理工作的兩
類(lèi)。接觸式儀器所提供的是一種一維的表面圖形，而光學(xué)干涉顯微鏡所
顯示的則是一種二維的表面圖形。采用機(jī)電接觸式輪廓儀，則不但可提
供表面的輪廓圖。而且不可以直接示出各種粗糙度尺寸。
當(dāng)用一種粗糙度尺寸，例如R。，表明一個(gè)工件的粗糙度時(shí)，需要在
工件不同位置上進(jìn)行一系列測(cè)量，以便從這些R.值中求出一個(gè)平均值來(lái)
。測(cè)點(diǎn)的數(shù)目取決于這些分別測(cè)量數(shù)據(jù)的離散程度。
由于至今還沒(méi)有一種測(cè)量粗糙度的儀器能準(zhǔn)確地按標(biāo)準(zhǔn)的E-制或M-制
工作（結(jié)構(gòu)上有困難），所以在比較由各種機(jī)電式輪廓儀測(cè)出的粗糙度
時(shí)，必須注意下列兩點(diǎn)：
1.這些儀器必須有相同的基準(zhǔn)制，或者同樣的探測(cè)器結(jié)構(gòu)；
2.測(cè)量必須在輪廓的同一段長(zhǎng)度上進(jìn)行，而且都不用或者都用相同的
波紋濾除器。
由此可以得出下列表示表面粗糙度值的合適的數(shù)據(jù)，
如：粗糙度算術(shù)平均值用輪廓儀測(cè)量；
出自http://www.bjsgyq.com/北京顯微鏡百科
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