標(biāo)題：鍍層金相截面法測量厚度計(jì)量金相顯微鏡
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作者:yiyi發(fā)布
時(shí)間:2014-12-15 17:26:05
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正文:
當(dāng)測試的樣品具有簡單的形狀(例如板、管等)，只要簡單的測
量就夠了.但是，當(dāng)形狀復(fù)雜時(shí)，需要一個(gè)定位夾來保證千分表或
數(shù)字千分表總是測在同一位置上.良好的千分表有±2μm以下的
精度。
金相截面法測量厚度的通用方法相當(dāng)簡單的方法特別適合于
厚度5μm以上的鍍層.由于光學(xué)顯微鏡分辨率的限止，較薄的鍍層
能夠測量到±0.5μm。金相截面法不適合測量厚度2μm以下的鍍層。
測量鐵磁性基底上的非鐵磁性鍍層.有兩種不同的測量原理。
吸力法中，測量鍍層厚度是利用永久磁鐵和基底之間的吸力
大小與兩者之間的距離的關(guān)系。這一距離就是鍍層厚度。
在磁感應(yīng)法中，從探頭發(fā)出的磁力線穿過非鐵磁性的鍍層進(jìn)
渦流法使用高頻交流在鍍膜構(gòu)成的測試點(diǎn)里形成磁場。當(dāng)探
頭碰到金屬的導(dǎo)電樣品時(shí)，形成渦流并反饋給測試探頭。這一反饋
的大小取決于測試探頭與基底相隔的距離，于是用以測量厚度。
出自http://www.bjsgyq.com/北京顯微鏡百科
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北京地區(qū)金相顯微鏡專業(yè)的供應(yīng)商
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