標(biāo)題：常用照明光源金相試樣檢驗(yàn)的光學(xué)設(shè)計(jì)有哪些特點(diǎn)
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作者:yiyi發(fā)布
時(shí)間:2014-12-17 15:52:12
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正文:
明場(chǎng)照明金相試樣檢驗(yàn)的光學(xué)設(shè)計(jì)有哪些特點(diǎn)
檢測(cè)方法
明場(chǎng)照明金相試樣檢驗(yàn)的最主要方法是通過入射光
的明場(chǎng)照明的垂直照明裝置的光程。
大部分顯微照片都是用明場(chǎng)垂直照明拍下來的。
斜照明 斜照明是通過把聚光裝置或反射鏡磨得光
心與幾何中心不一致來得到的，斜照明投射陰影是由
于凹凸或高度差的結(jié)果，這種高度差提供三維的外貌
。由于把聚光鏡磨得光心與幾何中心不一致而減小了
透鏡的NA（因此也降低了分辨能力），所以可能使用
的傾斜度是有限的。
暗場(chǎng)照明暗場(chǎng)照明由于各種效應(yīng)產(chǎn)生高襯度的圖象
，對(duì)明場(chǎng)照明來說，這些效應(yīng)通常沒有什么作用。
暗場(chǎng)照明對(duì)于觀察組織的顏色，改善無(wú)色組織的襯度
和觀察非常小的粒子（超顯微技術(shù)）方面很有用處。
這種方式下，物體表現(xiàn)為自發(fā)光，這是提高分辨率的
一種條件。由于照明度低，所以必須使用強(qiáng)光源，
盡管做到這一點(diǎn)，曝光時(shí)間還可能相當(dāng)長(zhǎng)。暗場(chǎng)入射
光顯微技術(shù)著重表現(xiàn)表面的不規(guī)則，例如晶界、裂縫
和凹坑。
出自http://www.bjsgyq.com/北京顯微鏡百科
特別聲明：本文出自北京上光儀器有限公司-未經(jīng)允許請(qǐng)勿轉(zhuǎn)載，本文地址：http://www.bjsgyq.com/news/6374.html
北京地區(qū)金相顯微鏡專業(yè)的供應(yīng)商
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