標題：礦石標本結構構造截面分析圖像顯微鏡-粗糙度測量
信息分類:站內(nèi)新聞
作者:yiyi發(fā)布
時間:2015-1-25 4:02:18
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正文:
礦石光片是礦相顯微鏡研究的主要對象。光片磨制的質(zhì)量好
壞，直接影響到礦相學研究的可靠度。光片的制備過程須經(jīng)準備礦
石、切片、棋磨、(細磨、磨光、安裝等幾道工序)o
首先選擇有代表性的礦石磨制光片，光塊或光薄片。
光塊是對具有特殊意義或有代表性的礦石結構構造(如顯示劃分
礦化階段的標志，
有典型的礦石構造的)的部分磨制成大光面，.其大小根據(jù)實際情況
選定。光塊可提供作較大范圍光面進行觀察研究之用。光薄片是
偏，反步兩用的，不加蓋玻璃，可以鑒定透明礦物的成分以及與
不透明礦物之間的關系，
其次是將標本進行鋸切，并進行粗磨及細磨，然后將細磨的
光片進行拋光，最后將光片進行按裝，即可放到顯微鏡下去觀察。
出自http://www.bjsgyq.com/北京顯微鏡百科
特別聲明：本文出自北京上光儀器有限公司-未經(jīng)允許請勿轉(zhuǎn)載，本文地址：http://www.bjsgyq.com/news/6532.html
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