標(biāo)題：電子顯微鏡技術(shù)需光欄裝置設(shè)計(jì)放進(jìn)物鏡后焦面
信息分類:站內(nèi)新聞
作者:yiyi發(fā)布
時(shí)間:2015-3-3 0:16:59
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正文:
電子顯微鏡技術(shù)需光欄放進(jìn)物鏡后焦面
研究晶體缺陷最普遍采用的透射電子顯微鏡技術(shù)需
要把一個(gè)光欄放進(jìn)物鏡后焦面。這個(gè)光欄選取一束電子并保證只
有這束電子參加形成終端象。選取透射束得到亮場(chǎng)象，反之，選取
衍射束就形成暗場(chǎng)象。這種方法形成的象就是所選電子束強(qiáng)度在
晶體底面各點(diǎn)變化的電子象。如果從試樣的這個(gè)區(qū)域到另一區(qū)域，
透射束強(qiáng)度變化明顯，就得到亮場(chǎng)象襯，相應(yīng)的效應(yīng)也可在暗場(chǎng)中
出現(xiàn)。晶體局部彎曲是能引起電子束強(qiáng)度變化的一種最明顯的結(jié)
構(gòu)變化，這種變化可以由晶體缺陷、析出物等引起。如果局部彎曲
影響的是位于或接近于布拉格角的晶面，可以預(yù)言，局部區(qū)域的強(qiáng)
度會(huì)有重大變化。然而，如果彎曲畸變只涉及不滿足布拉格條件的
品面以及彎曲畸變不足以使晶面達(dá)到滿足布拉格條件，也不致引
起局部區(qū)域強(qiáng)衍射，可以預(yù)料，這時(shí)電子象不會(huì)有多大變化。根據(jù)
這個(gè)定性推理，可以知道，試樣的襯度看來(lái)取決于衍射條件，即特
定晶面是否發(fā)生強(qiáng)衍射和它們接近于布拉格條件的程度。
出自http://www.bjsgyq.com/北京顯微鏡百科
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