標(biāo)題：測(cè)定礦物硬度的測(cè)試常用折射儀偏光顯微鏡
信息分類:站內(nèi)新聞
作者:yiyi發(fā)布
時(shí)間:2015-3-13 23:53:21
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正文:
用干涉圖測(cè)定寶石光性與軸性，在理論上是成熟
的。但由于被琢磨的寶石，表面具有復(fù)雜的刻面，
使觀察干涉圖受到很大的限制，因而，常用折射儀
法、偏光顯微鏡法測(cè)定軸性與光性。
在寶石學(xué)中，為了測(cè)定寶石的硬度，設(shè)計(jì)了一種
硬度筆，它是在長(zhǎng)約5-7厘米的金屬柄的前端，鑲上
一粒摩氏硬度計(jì)礦物制成。也有把標(biāo)準(zhǔn)硬度礦物制
成磨光小片，后者又稱為“標(biāo)準(zhǔn)硬度片”。
硬度的測(cè)試是一種的損測(cè)試，因此只能用在末經(jīng)
琢磨的寶石和玉石原料，一般不能用來(lái)刻劃成品或
工藝品，以免損傷寶石。使用時(shí)，將被測(cè)寶石的一
個(gè)尖棱部位，輕輕刻劃標(biāo)準(zhǔn)硬度片，然后用放大鏡
觀察被刻劃處是否留下劃痕，如果有細(xì)線狀劃痕，
表示寶石的硬度大于標(biāo)準(zhǔn)硬度片，就換用硬度較高
一級(jí)的硬度片繼續(xù)一試。通過(guò)比較逐步得到寶石的
硬度值，也可用硬度筆輕輕刻劃寶石的不顯眼部位
，如亭部等，來(lái)比較硬度的大小。
出自http://www.bjsgyq.com/北京顯微鏡百科
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北京地區(qū)金相顯微鏡專業(yè)的供應(yīng)商
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