標題：顯微分析構(gòu)造巖顯微組構(gòu)-配備軟件可測量晶格顆粒度
信息分類:站內(nèi)新聞
作者:yiyi發(fā)布
時間:2015-3-17 13:12:26
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正文:
顯微分析構(gòu)造巖顯微組構(gòu)-可測的晶格要素
優(yōu)選方位的顯微分析構(gòu)造巖顯微組構(gòu)的優(yōu)選方位準平行
于葉理S 的云母片和構(gòu)成S 中線理L 的角閃石柱之空間排列
的慣有趨勢，早就被認為是葉理化變質(zhì)巖的特征。這就是桑
德所稱的顆粒形式的優(yōu)選方位。在第二章中，我們曾把這樣
的現(xiàn)象與面狀要素和線狀要素——在較大規(guī)模上具貫穿性的
不連續(xù)體——聯(lián)系起來作過討論。因為云母和角閃石具有顯
著的結(jié)晶習(xí)性，所以它們顆粒的這種優(yōu)選方位巍然伴隨著它
們晶格要素——云母之平行于S 的，角閃石之平行于S 的—
—的優(yōu)選方位。與云母和角閃石相反，石英和方解石在構(gòu)造
巖中幾乎沒有可識別的結(jié)晶習(xí)性，通常以等軸顆粒的形式出
現(xiàn)。如果這兩種顆粒呈透鏡狀或被拉長了，
那么，在它們的形體與光學(xué)上可測的晶格要素之間，就
沒有什么規(guī)則關(guān)系可尋。可是，正如桑德和施密特最初所證
明的那樣，這些礦物的內(nèi)部要素，在構(gòu)造巖中也幾乎不變地
要顯示某種優(yōu)選方位狀態(tài)，這被稱為顆粒構(gòu)造或晶格要素的
優(yōu)選方位。
出自http://www.bjsgyq.com/北京顯微鏡百科
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