標(biāo)題：標(biāo)準(zhǔn)和末知礦物表面折射率測(cè)量偏光顯微鏡
信息分類:站內(nèi)新聞
作者:yiyi發(fā)布
時(shí)間:2015-3-28 17:33:54
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正文:
對(duì)于任何波長(zhǎng)所測(cè)范圍是完全相同的，由測(cè)定過(guò)程可知
，A法要求測(cè)定儀器有高度的穩(wěn)定性，在整個(gè)測(cè)定過(guò)程
中不能有零點(diǎn)漂移或靈敏度漂移等現(xiàn)象，此外推動(dòng)連續(xù)
干涉濾光器要求特別細(xì)心，須使末知礦物測(cè)定時(shí)所用波
長(zhǎng)和標(biāo)準(zhǔn)所用的嚴(yán)格 相等，并且一次推動(dòng)會(huì)影響全部
測(cè)定值。
優(yōu)點(diǎn)是對(duì)儀器的穩(wěn)定性要求較低，只要在用某一波長(zhǎng)
測(cè)標(biāo)準(zhǔn)和末知的過(guò)程中穩(wěn)定即可，并不要求在整個(gè)測(cè)定
中都穩(wěn)定不變。例如用B法可以第一次開動(dòng)光度計(jì)后，
必須把一個(gè)礦物測(cè)完，B法的缺點(diǎn)是操作較麻煩，須頻
繁的互換標(biāo)準(zhǔn)和末知礦物光片，當(dāng)每隔10毫微米測(cè)一次
時(shí)，在400-700毫微米區(qū)間須換31次，在換光片可以
不必重新調(diào)焦，并且光片每次都能保證精確水平。
出自http://www.bjsgyq.com/北京顯微鏡百科
特別聲明：本文出自北京上光儀器有限公司-未經(jīng)允許請(qǐng)勿轉(zhuǎn)載，本文地址：http://www.bjsgyq.com/news/6772.html
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