標(biāo)題：高硬度脆性材料試樣斷口晶粒評(píng)定金相顯微鏡
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作者:yiyi發(fā)布
時(shí)間:2015-5-12 21:29:07
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正文:
高硬度脆性材料試樣斷口晶粒評(píng)定金相顯微鏡
斷口晶粒評(píng)定法
對(duì)于高硬度脆性材料只需要將試樣斷口與斷口歀
試樣比較就可簡(jiǎn)單地確定原始奧氏體晶粒主，這種
方法稱為斷口晶粒度測(cè)定法。
斷口晶粒度評(píng)定只有在斷口是平坦的脆性斷口時(shí)
才能得到滿意的結(jié)果，硨只適用于評(píng)定含有高碳馬
氏體的斷口樣品，一些具有非馬氏體組織的斷口不
適于進(jìn)行斷口晶粒評(píng)定，所以這種方法有一定的局
限性。
晶粒度評(píng)定的精確性決定于三個(gè)方面誤差的大小
，第一類誤差是由于試驗(yàn)的局限性，如有限的分辨
率、晶界不清晰、線段長(zhǎng)度測(cè)量誤差及漏計(jì)當(dāng)我等
，一般說這類誤差不大，第二類誤差與抽樣有關(guān)，
第三類誤差來自測(cè)量視場(chǎng)的代表性。
任何測(cè)量方法都應(yīng)當(dāng)以最少的時(shí)間獲得最好的測(cè)
量精度為目標(biāo)，面積法的誤差最小，但較慢，圖片
法可以達(dá)到0.5個(gè)晶粒度指數(shù)單位 ，而用截點(diǎn)法達(dá)
到同樣精度所需要并不比圖片法少。
出自http://www.bjsgyq.com/北京顯微鏡百科
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