標(biāo)題：多晶材料的晶粒大小的測(cè)定是金相測(cè)量的應(yīng)用
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作者:yiyi發(fā)布
時(shí)間:2015-6-17 14:41:16
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正文:
晶粒大小
多晶材料的晶粒大小的測(cè)定是金相測(cè)量中最重要的一項(xiàng)，
因?yàn)榫Я４笮?duì)材料的性能和行為有影響，在平面測(cè)量的基礎(chǔ)
上確定三維晶粒的尺寸是研究者們從數(shù)十年前就開始研究和解
決的難題，要確定在給定體積內(nèi)所有晶粒的立體尺寸是極其困
難的，于是，人們通常確定一個(gè)單值并用它來代表平面上的晶
粒大小平均值，它不說明任何有關(guān)現(xiàn)有晶粒尺寸的范圍，但卻
是一個(gè)有用的數(shù)值。
晶粒大小的測(cè)量在穿過組織的橫截面上觀察到的晶粒大小
常用來確定晶粒的二維尺寸，表示晶粒大小可以有幾種不同的
測(cè)量值：平均直徑平均面積單位面積上的晶粒數(shù)平均截距長(zhǎng)度
單位體積中的晶粒數(shù)由平均晶粒體積求出的平均直徑
復(fù)雜的是：有很多顯示晶粒邊界的方法并且晶粒有不同的
類型，在質(zhì)量控制研究中，鋼樣可經(jīng)各種不同的方法處理來顯
示奧氏體晶界，這些方法包括：滲碳法中斷冷卻法，等溫轉(zhuǎn)變
或漸變淬火法氧化法銅擴(kuò)散法熱浸蝕法這些方法見有關(guān)晶粒大
小測(cè)量的標(biāo)準(zhǔn)如標(biāo)準(zhǔn)對(duì)于熱處理后的鋼制零件因這些方法會(huì)改
變其組織，因而不能采用，這時(shí)必須用浸蝕法來優(yōu)先刻劃出原
奧氏體晶界。
出自http://www.bjsgyq.com/北京顯微鏡百科
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