標題：電子顯微鏡裝有精確觀察裝置研究結(jié)晶學(xué)襯度
信息分類:站內(nèi)新聞
作者:yiyi發(fā)布
時間:2015-7-27 2:27:12
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正文:
電鏡裝有精確觀察裝置研究結(jié)晶學(xué)襯度
(1)為了使被分析試樣準確地放到布拉格位置，則要求掃
描電鏡裝有精確的傾動臺。
(2)為了提高成像的襯度效應(yīng)，最好采用低損失電子信號
來成像，這又要求掃描電鏡上裝有電子能量分析器。
但上述這些要求，目前只有少數(shù)商品生產(chǎn)的掃描電鏡才能滿
足，故有關(guān)晶體缺陷的觀察技術(shù)一直進展緩慢。
(3)電子通道顯微像是一種顯示電子通道效應(yīng)的顯微圖
像。它的特點是能顯示結(jié)晶學(xué)襯度，故這種圖像常被應(yīng)用來觀察
多晶的位向分布狀態(tài)和分析晶體塑性變形的性質(zhì)等。
(4)在確定變形金中所形成亞胞的錯向角方面，同透射電
鏡方法比較，電
子通道顯微術(shù)方法具有準備樣品容易和不受視場
的限制等優(yōu)點。
(5)應(yīng)用場致發(fā)射電子槍作為電子束源，有可能直接觀察
到晶體中位錯。從將來發(fā)展來看，如果能把晶體缺陷的觀察同其
它表面分析方法(如俄歇電子能譜分析法)結(jié)合起來，它將會在
冶金學(xué)研究和表面科學(xué)研究方面提供十分有用的資料。
出自http://www.bjsgyq.com/北京顯微鏡百科
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