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正文:
透射電鏡(TEM)
透射電鏡屬于電子顯微鏡的一種,它的成像原理與光學
金相顯微鏡基本相同,只是由電子束代替可見光,由電磁透鏡代替光學
透鏡
用透射電鏡鑒別鍍層的組織時,由電子槍發(fā)射的電子,經(jīng)兩個
聚光鏡聚焦成一束很細的、亮度極高而發(fā)射度較小的電子束
由于鍍層金屬試樣表面對電子的反射能力較差,因此不能像
光學
金相顯微鏡那樣采用反射成像。又由于電子束穿透金屬試樣
的能力不大,電不能直接用金相試樣作透射觀察,所以用透射電鏡
鑒別鍍層結構時,需要采用專門的方法制備復型(如塑料一碳二級
復型、萃取復型等)或金屬薄膜等措施,使金屬內(nèi)部結構顯露出來。
以確保電子顯微鏡的分辨率,提高鍍層微觀結構的鑒別效果
透射電鏡的分辨率雖高,但它的視域較小。所以它是光學金
相顯微鏡的發(fā)展和補充,而不能看作其取代光學金相顯微鏡。為
了正確而有效地分析鍍層的組織和形貌,通常應先以光學金相顯
微鏡進行鑒別其全貌,然后再用透射電鏡作進一步鑒定。
由于背射電子和吸收電子的作用,得到晶體結構分析的信
號,能產(chǎn)牛電子通道效應,加強了鍍層結構鑒別的效果。掃描電鏡
的另一個功能是由于X射線光子和俄歇電子的能量可直接表征
元素的特性,所以可用來作為鍍層金屬成分分析的信號,借以鑒別
鍍層的成分有可靠的依據(jù)。
場致離子顯微鏡
場致離子顯微鏡是研究各種金屬表面微觀結構的一種新的工
具。同時也可通過表面分析研究金屬的晶界結構和相變等等。
出自http://www.bjsgyq.com/
北京顯微鏡百科
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