標(biāo)題：鍍層微觀結(jié)構(gòu)微觀形貌、晶體結(jié)構(gòu)檢測金相顯微鏡
信息分類:站內(nèi)新聞
作者:yiyi發(fā)布
時間:2015-9-13 14:30:39
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正文:
鍍層微觀結(jié)構(gòu)
鍍層微觀結(jié)構(gòu)是指鍍層的微觀形貌、晶體結(jié)構(gòu)和金相組織(也
包括化學(xué)成分)。
鍍層微觀結(jié)構(gòu)由鍍覆工藝條件決定，并對鍍層的強度、韌性、
硬度、內(nèi)應(yīng)力等多種性能產(chǎn)生重要的影響。研究鍍層微觀結(jié)構(gòu)．是
闡明鍍覆層結(jié)晶機理、指導(dǎo)鍍覆層生產(chǎn)實踐和鍍綴層材料研究的
基礎(chǔ)。
分析方法
顯微鏡法最常用手段是金相顯微鏡和電子顯微鏡。用其
觀察鍍層的表面或截面形貌、結(jié)構(gòu)和缺陷，并可照相。
金相顯微鏡可廣泛用于鍍層質(zhì)量的常規(guī)檢測。如鍍層外觀等
項目；而電子顯微鏡則是只有在實驗室檢測中才使用，因其分辨率
極高，故可觀察鍍覆層初期微晶的形態(tài)和缺陷。
試樣
試樣尺寸可按使用儀器的說明書要求確定。并按要求制備。一
般做鍍層成分測定時，試樣均為固體的，其中電子探針和俄歇能譜
為非破壞性。而離子探針為破壞性。
測定結(jié)果
由儀器所附數(shù)據(jù)測試系統(tǒng)測定并打印。直接得到定性或定量
數(shù)據(jù)，另外從圖象顯示系統(tǒng)也可直接觀察成象情況。
鍍層微觀結(jié)構(gòu)分析
出自http://www.bjsgyq.com/北京顯微鏡百科
特別聲明：本文出自北京上光儀器有限公司-未經(jīng)允許請勿轉(zhuǎn)載，本文地址：http://www.bjsgyq.com/news/7440.html
北京地區(qū)金相顯微鏡專業(yè)的供應(yīng)商
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