標(biāo)題：光電薄膜當(dāng)前世界研究趨勢(shì)探討
信息分類:站內(nèi)新聞
作者:yiyi發(fā)布
時(shí)間:2011-10-23 1:27:08
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正文:
1. 光電薄膜晶粒控制：修習(xí)學(xué)生將獲得全微電子控制高溫爐、桌上控制模組、金相顯微鏡操作技能。
2. 光電薄膜平整度分析：修習(xí)學(xué)生將瞭解大面積表面粗糙度量測(cè)
儀、手提式可攜帶探頭及控制器、小面積粗糙度量?jī)x、三維
影像與 I/V, I/Z 量測(cè)操作實(shí)務(wù)經(jīng)驗(yàn)。
3. 光電薄膜電性量測(cè)：修習(xí)學(xué)生將學(xué)習(xí)獲得高頻極低漏電低溫量
測(cè)、四點(diǎn)探針量測(cè)、高精度微探針定位、低溫絕熱測(cè)針、自
動(dòng)化程控 IV 量測(cè)操作技能。
4. 光電薄膜晶粒控制、平整度分析與電性量測(cè)在當(dāng)前高科技產(chǎn)業(yè)
中所扮演角色探討。
5. 光電薄膜當(dāng)前世界研究趨勢(shì)探討。
出自http://www.bjsgyq.com/北京顯微鏡百科
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