標(biāo)題：STM技術(shù)是一個(gè)原子水平上的材料分析工具
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作者:yiyi發(fā)布
時(shí)間:2016-6-27 13:08:52
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正文:
STM技術(shù)是一個(gè)原子水平上的材料分析工具
由于能夠在納米和原子量級(jí)上探測(cè)電流與力的雙重性能，在過去的
20年AFM促進(jìn)了各種掃描探針顯微鏡(sanning probe microscope，SPM)
技術(shù)的快速發(fā)展。諸如AFM、磁力顯微鏡技術(shù)、靜電力顯微鏡技術(shù)、掃
描電容顯微鏡技術(shù)、近場(chǎng)掃描光學(xué)顯微鏡技術(shù)等的出現(xiàn)，讓使用者們能
在納米量級(jí)上研究材料的局域電子的、磁的、化學(xué)的、力學(xué)的、光學(xué)的
與熱學(xué)的性質(zhì)�，F(xiàn)已表明，SPM技術(shù)不僅可以成像，還能讓使用者在納
米和原子量級(jí)上控制和修改局部結(jié)構(gòu)和材料性能。于是，過去的20年SP
M技術(shù)的利用得到高速增長，SPM技術(shù)被廣泛應(yīng)用于各個(gè)科學(xué)領(lǐng)域，從凝
聚物理學(xué)、化學(xué)、材料學(xué)到醫(yī)藥和生物學(xué)。毫不夸張地說，納米科技20
年的高速發(fā)展得益于SPM技術(shù)的應(yīng)用，同時(shí)也促進(jìn)了新的SPM探測(cè)技術(shù)的
發(fā)展。
STM技術(shù)是一個(gè)原子水平上的材料分析工具，它基于電子方法測(cè)量
導(dǎo)電針尖與表面之間的隧道電流。它能描繪和分析原子或分子表面附近
的電子本質(zhì)特性。另外，它也可以操控單個(gè)原子或分子。因此，STM技
術(shù)是第一代的原子或分子技術(shù)。然而，STM技術(shù)只能用于研究在某種程
度上具有導(dǎo)電性的表面。另一方面，AFM則是唯一以機(jī)械手段研究絕緣
體表面的原子水平上的檢測(cè)工具。
出自http://www.bjsgyq.com/北京顯微鏡百科
特別聲明：本文出自北京上光儀器有限公司-未經(jīng)允許請(qǐng)勿轉(zhuǎn)載，本文地址：http://www.bjsgyq.com/news/8571.html
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