標(biāo)題：大顆粒的精確測量需要重調(diào)焦距螺旋測微器
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作者:yiyi發(fā)布
時(shí)間:2017-5-20 21:32:12
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正文:
大顆粒的精確測量需要重調(diào)焦距螺旋測微器
在測量物質(zhì)大小時(shí)，使用螺旋測微器，它的測量精度可達(dá)到1／1000mm。即
便如此，也不能精確測量體積太小的顆粒，因?yàn)檫@樣的測量取決于顯微鏡的測量
能力和精確度。對于螺旋測微器的精度，通常推薦使用與化合物尺寸相匹配的測
量精度。
各種不同的情況均會(huì)導(dǎo)致測量誤差，有時(shí)顆粒在組織切片的不同分布會(huì)導(dǎo)致
誤差，基于此，大顆粒的精確測量需要重調(diào)焦距。有些十字或斜斷面還可能會(huì)被
誤認(rèn)為是很小或極大的顆粒，為了得到統(tǒng)計(jì)上可信度較高的顆粒大小數(shù)據(jù)，就需
要做盡可能多的測量。
只有被雙折射光照射的表面才能被準(zhǔn)確測量，因此，誤差是不可避免的。另
外不能明確的是，被雙折射光所照射的地方是否就是真正的物質(zhì)的表面。在自然
光下，不能或者說不能精確地辨認(rèn)和測量透明顆粒，所以，測量必須在偏光下進(jìn)
行。另一方面，光密微粒，譬如金屬，不能使用十字偏光片進(jìn)行測量，因?yàn)槠?/div>
出自http://www.bjsgyq.com/北京顯微鏡百科
在微粒的邊緣準(zhǔn)確再現(xiàn)表面的能力不如自然光。
小顆粒有可能結(jié)塊，從而導(dǎo)致實(shí)際顆粒大小量的誤差。這可能是由于機(jī)械
力或范德華力導(dǎo)致微粒聚集。
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