標(biāo)題：制造的器件中故障的測(cè)試檢測(cè)工業(yè)顯微鏡
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作者:yiyi發(fā)布
時(shí)間:2017-6-24 2:08:12
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正文:
制造的器件中故障的測(cè)試檢測(cè)工業(yè)顯微鏡
通常來(lái)說(shuō)，對(duì)于組合電路以及全掃描電路，為檢測(cè)固定型故障
的測(cè)試都是單向量測(cè)試。為單固定型故障的測(cè)試的生成方法已經(jīng)被
研究超過(guò)五十年并且廣泛應(yīng)用于產(chǎn)業(yè)中并成為測(cè)試套件的一部分。
隨著設(shè)計(jì)的特征尺寸的減小，應(yīng)用針對(duì)新增故障模型的測(cè)試變得尤
為重要。
不是所有這類制造的器件中的缺陷都能被知曉，它們可能數(shù)量
眾多而不能通過(guò)生成測(cè)試來(lái)確切進(jìn)行鎖定。例如，如果假設(shè)電路中
的每一對(duì)節(jié)點(diǎn)都能夠形成一個(gè)橋接缺陷，那么能夠產(chǎn)生的橋接缺陷
的總數(shù)量將會(huì)是非常龐大的。即使將與實(shí)際接近的條件賦予遭受橋
接缺陷的節(jié)點(diǎn)對(duì)上，橋接型缺陷的數(shù)量也會(huì)很大。
一些缺陷會(huì)引起信號(hào)傳播延遲的增加，例如電阻性開(kāi)路、弱晶
體管以及低阻橋。工藝參數(shù)的變化也會(huì)引起信號(hào)傳播延遲高于標(biāo)稱
值。增加信號(hào)傳播延遲的事件被建模稱為延遲故障。已經(jīng)提出了幾
個(gè)延遲故障模型。在本章以及后續(xù)章節(jié)中，延遲故障會(huì)被廣泛討論
。增加的信號(hào)傳播延遲可能發(fā)生在一個(gè)邏輯門(mén)上或數(shù)個(gè)邏輯門(mén)上。
出自http://www.bjsgyq.com/北京顯微鏡百科
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