標(biāo)題：PEM-故障分析時(shí)最常用的電性定位儀器！搭配顯微鏡偵測(cè)缺陷波段！
信息分類:站內(nèi)新聞
作者:yiyi發(fā)布
時(shí)間:2012-5-9 22:08:37
將本頁加入收藏
下一篇：PEM-故障分析亮點(diǎn)判斷！一臺(tái)顯微鏡多少錢！
上一篇：熱點(diǎn)形式？LCD檢測(cè)顯微鏡購買！
點(diǎn)擊查看產(chǎn)品參數(shù)和報(bào)價(jià)--丨--
---
---
---
正文:
PEM-故障分析時(shí)最常用的電性定位儀器！搭配顯微鏡偵測(cè)缺陷波段！
PEM是IC Design House自行做故障分析時(shí)最常用的電性定位儀器，
它的原理簡(jiǎn)單的說就是利用一個(gè)顯微鏡配上一個(gè)光的感測(cè)器(Detector)來偵測(cè)因?yàn)槿毕菟a(chǎn)生特定波段的光，
并把光點(diǎn)和之前擷取的晶片影像疊加(superimposition)起來，以達(dá)到缺陷處定位的目的
出自http://www.bjsgyq.com/北京顯微鏡百科
特別聲明：本文出自北京上光儀器有限公司-未經(jīng)允許請(qǐng)勿轉(zhuǎn)載，本文地址：http://www.bjsgyq.com/news/2940.html
北京地區(qū)金相顯微鏡專業(yè)的供應(yīng)商
北京地區(qū)金相顯微鏡專業(yè)的供應(yīng)商