標(biāo)題：凝固及單晶合金再結(jié)晶顯微結(jié)構(gòu)金相檢測(cè)顯微鏡
信息分類:站內(nèi)新聞
作者:yiyi發(fā)布
時(shí)間:2014-2-6 17:38:36
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正文:
金相檢測(cè)是根據(jù)定向凝固和單晶高溫合金發(fā)生再結(jié)晶后顯微組織
形貌與柱狀晶以及枝晶有一定區(qū)別而進(jìn)行的。
再結(jié)晶檢測(cè)分為再結(jié)晶宏觀檢查和再結(jié)晶深度檢測(cè)。對(duì)再結(jié)晶的檢測(cè)一般
應(yīng)在定向凝固或單晶葉片固溶熱處理后進(jìn)行，對(duì)于時(shí)效溫度超過定向凝固
和單晶高溫合金再結(jié)晶溫度的情況，再結(jié)晶的檢測(cè)應(yīng)在葉片時(shí)效熱處理后進(jìn)行。
再結(jié)晶宏觀檢查時(shí)，首先采用適當(dāng)?shù)母g劑對(duì)合金或葉片表面進(jìn)行腐蝕，
然后利用目視或放大鏡進(jìn)行檢查。發(fā)生再結(jié)晶的合金或葉片經(jīng)腐蝕后，
在陽光下用肉眼觀察表面，局部區(qū)域可見反光較強(qiáng)的‘些亮點(diǎn)，
有的呈“黑”色，有的呈“白”色。在放大鏡下觀察，這些反光亮點(diǎn)為再結(jié)晶組織，
再結(jié)晶深度檢測(cè)時(shí)，從再結(jié)晶宏觀檢查中再結(jié)晶晶粒中心區(qū)域截取橫剖面
試樣，經(jīng)打磨拋光后通過適當(dāng)腐蝕顯示晶粒，然后利用光學(xué)顯微鏡或視頻顯微鏡
等設(shè)備進(jìn)行再結(jié)晶深度測(cè)量。
出自http://www.bjsgyq.com/北京顯微鏡百科
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北京地區(qū)金相顯微鏡專業(yè)的供應(yīng)商
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