標(biāo)題：斷口試樣表面粗糙度檢測(cè)用金相顯微鏡制造廠商
信息分類:站內(nèi)新聞
作者:yiyi發(fā)布
時(shí)間:2014-6-21 15:15:07
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正文:
首先，斷口表面一般都是粗糙不平的，將試樣放在載物臺(tái)上時(shí)，應(yīng)設(shè)法使試
樣的平均平面和載物臺(tái)的平面(Xm-ym平面)平行，這樣，就可以觀察到盡可能多
的清晰試樣表面。斷口表面粗糙不平也就意味著，隨著物鏡的不同，尤其是透鏡
數(shù)值孔徑的不同，可能只有一小部分的試樣是清晰聚焦的。在實(shí)際操作中，更重
要的是，隨著物鏡放大倍數(shù)的增長(zhǎng)，透鏡和試樣表面之間的工作距離不斷減小。
當(dāng)使用很大倍數(shù)的物鏡時(shí)，由于粗糙度的尺度超過(guò)了可用的工作距離，顯微鏡只
能看到試樣表面非常小的區(qū)域,甚至可能在顯微鏡聚焦之前，透鏡的
下半部分就已經(jīng)碰到了試樣。盡管有些特殊的透鏡具有更長(zhǎng)的工作距離，可以解
決這個(gè)問(wèn)題，但它們的價(jià)格比普通透鏡昂貴得多。
其次，斷口表面的形貌隨著位置的變化而不同。要想確定樣品上所檢查區(qū)
域的位置，還需要對(duì)Xg , Yg , Zg三個(gè)軸(g代表機(jī)械載荷體系(mechanical loading
system)的幾何外形)，Xs , Ys , Zs (s代表試樣)三個(gè)軸與Xm , Ym , Zm三個(gè)軸之間
的關(guān)系以及它們和斷口表面之間的關(guān)系有更多的了解。在做斷口顯微分析時(shí)，
這一點(diǎn)時(shí)常被忽視，有些時(shí)候，這一點(diǎn)確實(shí)不那么重要，但有時(shí)候卻又是至關(guān)
重要的。
出自http://www.bjsgyq.com/北京顯微鏡百科
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北京地區(qū)金相顯微鏡專業(yè)的供應(yīng)商
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