標題：極細晶粒復型電子金相定量分析顯微鏡
信息分類:站內新聞
作者:yiyi發(fā)布
時間:2015-2-18 16:28:50
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正文:
用復型定量評定組織用復型電子金相法進行研究時，
由于放大倍數高，可對組織元素的尺寸(極細晶粒、彌散質
點)進行定量評定。在這種情況下，尤其是當質點比沉積層
厚度小時，陰影濺射角的選擇應特別仔細。根據已知的陰影
濺射角以及陰影的長度可以測定凸起處(組織元素)的
高度。
為了更準確地測定滑移臺階的高度，在陰影截射處理之
前在復型上放上尺寸較大且直徑嚴格相同的橡膠球。臺階
高度通過按橡膠球所引起的陰影長度變化(由于形成滑移痕)
進行計算。
切割和磨削方法
通常，適用于內部具有空間的試件。這種方法是為了“凍
結”試件的內部缺陷(游離的微片或不完全的相互連線等)。
首先，將最初封裝的封蓋削得相當薄;其次，用微型鉆頭或
鋒利的刀具在封蓋的兩角處開孔;最后，從一個孔注入熱固
性環(huán)氧樹脂(另一個孔起排氣口的作用)。待樹脂硬化后，去
掉封蓋的剩余部分。用這種方法不可能做許多試驗，但是
對于作為分析對象的污染的表面及微面附近，通過磨削、
出自http://www.bjsgyq.com/北京顯微鏡百科