標(biāo)題：微觀金屬樣品截面晶粒凝固分析圖像金相顯微鏡
信息分類:站內(nèi)新聞
作者:yiyi發(fā)布
時(shí)間:2015-5-4 14:05:35
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正文:
正常晶粒長(zhǎng)大的受阻與異常晶粒長(zhǎng)大的發(fā)生
異常晶粒長(zhǎng)大之前的原始晶粒組織是在一段時(shí)間的正常晶粒
長(zhǎng)大過(guò)程中形成的。這一正常晶粒長(zhǎng)大過(guò)程本應(yīng)一直持續(xù)下去，但
因各種不同阻礙因素的作用而停止在某一發(fā)展階段上。但盡管如
此，這時(shí)的微觀組織中仍存在晶界，從而在熱力學(xué)上仍是一種不
穩(wěn)定狀態(tài)。所以這時(shí)正常晶粒長(zhǎng)大過(guò)程的停止僅僅意味著不是所
有(或絕大部分)晶粒滿足正常晶粒長(zhǎng)大的尺寸條件而能長(zhǎng)大或
縮小。如果有一些大晶粒仍能長(zhǎng)大，則晶粒長(zhǎng)大過(guò)程將(參差不齊
地)繼續(xù)下去以進(jìn)一步減小系統(tǒng)的晶界總面積。但此時(shí)這些個(gè)別大
晶粒的長(zhǎng)大將不能繼續(xù)保持原有的晶粒組織特征，因此整個(gè)晶粒
長(zhǎng)大過(guò)程呈現(xiàn)異常特征。
所以發(fā)生異常晶粒長(zhǎng)大有兩個(gè)必要條件，即正常晶粒長(zhǎng)大過(guò)
程受阻，以及盡管如此仍有個(gè)別晶粒能繼續(xù)長(zhǎng)大。大量實(shí)驗(yàn)表明，
阻礙正常晶粒長(zhǎng)大過(guò)程并有可能誘發(fā)異常晶粒長(zhǎng)大的因素主要
有:薄試樣中的晶粒表面能差異、彌散分布的第二相粒子以及由
于材料織構(gòu)引起的晶界界面能及遷移率差異。實(shí)驗(yàn)中經(jīng)常發(fā)現(xiàn)，發(fā)
生異常晶粒長(zhǎng)大需要比阻礙正常晶粒長(zhǎng)大更高的溫度以及(或
者)更長(zhǎng)的退火時(shí)間。由此可認(rèn)為，晶粒長(zhǎng)大停止的原因是上述第
二個(gè)條件尚未滿足，一旦在晶粒長(zhǎng)大停滯期間中晶粒組織內(nèi)部發(fā)
生變化而“釋放”了少量晶粒，則它們將在其他晶粒生長(zhǎng)停滯的
時(shí)期內(nèi)長(zhǎng)大，而越來(lái)越顯著地大于其余晶粒從而發(fā)展成為二次晶
粒。這在宏觀上表現(xiàn)為異常晶粒長(zhǎng)大過(guò)程的爆發(fā)。
出自http://www.bjsgyq.com/北京顯微鏡百科
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