標(biāo)題：礦物實(shí)驗(yàn)室金屬和非金屬礦物實(shí)驗(yàn)用礦相顯微鏡
信息分類:站內(nèi)新聞
作者:yiyi發(fā)布
時(shí)間:2015-8-2 13:11:58
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正文:
選礦實(shí)驗(yàn)室可進(jìn)行金屬和非金屬礦物的小型實(shí)驗(yàn)，工作范圍包
括破碎、磨礦、微米粒級(jí)篩分、重選、向磁場(chǎng)強(qiáng)度和低礦場(chǎng)強(qiáng)度
磁選、氰化、柱式浸出、濃密、澄清經(jīng)及過濾。專長(zhǎng)是研究濃密
和澄清。
公司根據(jù)合同承擔(dān)試驗(yàn)室規(guī)模的濕法冶金試驗(yàn)工作。
與物理冶金有關(guān)的研究，一般由現(xiàn)有處理機(jī)構(gòu)來?yè)?dān)任，磨礦介
質(zhì)的研究已成了主要的課題，設(shè)備事故和物料應(yīng)用的分析也證明
是對(duì)選廠的人價(jià)值的服務(wù)。
電子元器件及整機(jī)的可靠性，就是指它們?cè)谝?guī)定的條件和規(guī)定
的時(shí)間里，完成規(guī)定功能的能力，由于制造上的缺陷，以及實(shí)際
工作條件和自然環(huán)境的影響，電子元器件可靠性差別甚大，必須
通過可靠性篩選剔除質(zhì)量不夠好的元件。
鑒于目前檢漏水平，一般推薦下列方法。
1、液浸檢漏法
這是粗略的檢漏法，通常選用變壓器油或氟碳化合物等加溫至
150℃以上，觀察浸入的電子元件表面有無定向氣泡逸出，最好
用低倍顯微鏡觀察。
2、氨質(zhì)譜及放射性示蹤檢漏
這兩種辦法是高靈敏度的檢漏法，但設(shè)備及操作較復(fù)雜，目前
我國(guó)只用于少量的抽檢中。
3、濕度檢漏法
這是利用半導(dǎo)體器件對(duì)潮氣影響非常敏感的特點(diǎn)進(jìn)行檢漏，即
將被檢器件放入潮濕箱一段時(shí)間后再測(cè)其參數(shù)，如發(fā)現(xiàn)參數(shù)有明
顯變化，則表明受了潮氣影響，應(yīng)作為氣漏元件而予以剔除，這
種辦法效果較好，漏檢率低，為目前較普遍采用的檢漏法。
出自http://www.bjsgyq.com/北京顯微鏡百科
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北京地區(qū)金相顯微鏡專業(yè)的供應(yīng)商
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